聯(lián)訊儀器CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)激光二極管LIV、光譜及近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)測(cè)試需求開發(fā)的。

聯(lián)訊儀器CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)激光二極管LIV、光譜及近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)測(cè)試需求開發(fā)的。系統(tǒng)集成了①DUT ID掃描→②從晶圓環(huán)上料→③運(yùn)輸→④高/低溫測(cè)試→⑤下料→⑥分揀歸類。

聯(lián)訊儀器CT8201支持前向/后向光測(cè)試。支持多溫區(qū)測(cè)試：3個(gè)測(cè)試座以支持高溫/低溫/常溫并行測(cè)試。

聯(lián)訊儀器CT8201測(cè)試效率非常快，可以在8s內(nèi)完成上述6個(gè)流程。非常適合大批量量產(chǎn)應(yīng)用。系統(tǒng)采用偏心凸輪結(jié)構(gòu)、高重復(fù)性步進(jìn)電機(jī)計(jì)、高精密夾具以及連接桿結(jié)構(gòu)，使其具有超高的精度和穩(wěn)定性。

芯片ID識(shí)別成功率：99%

ESD保護(hù)：所有和DUT相關(guān)的材料都是ESD防護(hù)的，良好接地

分類功能：支持4-6 晶圓盤，軟件配置分類計(jì)劃

激光器驅(qū)動(dòng)類型：每個(gè)芯片獨(dú)立驅(qū)動(dòng)

時(shí)間探測(cè)：功率丟失、網(wǎng)絡(luò)丟失、短路、開路和過溫