布魯克DimensionIcon原子力顯微鏡

分辨率成像-無(wú)論何時(shí)，不論哪次

完整的納米尺度定量信息

潛力無(wú)限–靈活，開(kāi)放

超乎想象的簡(jiǎn)單

使研究人員通過(guò)PeakForce Tapping®技術(shù)能夠隨時(shí)得到高分辨率的圖像。

在樣品上每個(gè)原子實(shí)現(xiàn)力掃描。

在感興趣的位置操作獲得高分辨率圖像。

點(diǎn)缺陷的高分辨三維尺寸和機(jī)械性能成像

通過(guò)快速輕敲，不降低效果的同時(shí)增加掃描速度

經(jīng)由自適用掃描選項(xiàng)達(dá)到nm級(jí)粗糙度樣品上4倍速度的提升

在氧化硅片上快速輕敲

在ITO上快速輕敲

采用雙向掃描選項(xiàng)即刻實(shí)現(xiàn)成像速度翻倍

采用布魯克專有的高速探針，結(jié)合已知佳規(guī)程（BKM）可將掃描速度提高10倍

Fastscan-C Probe

完整的納米尺度定量信息

使研究人員能夠通過(guò)經(jīng)常PeakForce Tapping®獲得高分辨率圖像。

可信的納米級(jí)粘彈性表征

以偽彩示意損耗模量，疊合以三維形貌數(shù)據(jù)。藍(lán)色區(qū)域有較高的損耗模量，紅色區(qū)域則較低，分別對(duì)應(yīng)于聚苯乙烯（PS）基質(zhì)和聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）摻入物。損失模量數(shù)據(jù)圖通過(guò)接觸共振原理的布魯克FASTForce Volume納米力學(xué)模式獲得。5微米掃描范圍，~ 590kHz, 256x256點(diǎn)采集。

間列聚丙烯疇（紫色）被聚甲基丙烯酸甲酯（藍(lán)綠色）基體包圍。在形貌數(shù)據(jù)上疊合模量數(shù)據(jù)可簡(jiǎn)易地區(qū)分組分，顯示出間列聚丙烯薄片在PMMA基體中擴(kuò)展。圖像尺寸8微米。

常規(guī)地獲得高質(zhì)量力學(xué)性能數(shù)據(jù)

獲取納米力學(xué)和納米化學(xué)數(shù)據(jù)的高級(jí)AFM研究

在之前不可能研究的樣品上研究電學(xué)性能。

直立碳納米管的電流成像。唯有PeakForce TUNA®可得到。

左：通過(guò)PeakForce Capture™獲取原子級(jí)力立方，顯示垂直截面上單顆原子的位置。右：PeakForce Capture平均數(shù)據(jù)顯示出可溶解結(jié)構(gòu)的的證據(jù)。

獲取整體力學(xué)數(shù)據(jù)，從而全面表征接觸力學(xué)機(jī)制。

實(shí)時(shí)研究原子化學(xué)信息。

峰值力輕敲高度像（左）和力曲線（右），顯示了表面原子排列以及在方解石和云母上樣品-探針間原子級(jí)相互作用的差異。

使研究人員通過(guò)PeakForce Tapping®技術(shù)獲得高分辨率圖像。

先使用已有的測(cè)量模式；如果沒(méi)有，創(chuàng)造一個(gè)。

左：手套箱中的原子力顯微鏡-拉曼聯(lián)用。右：光導(dǎo)AFM附件

在開(kāi)放的平臺(tái)上直接進(jìn)行改造， 與其它技術(shù)聯(lián)用。

直接控制軟件和硬件，選擇一個(gè)容易的方法：串行通訊端口，信號(hào)測(cè)試盒，Nanoman/Litho和力腳本等。

左：通過(guò)COM口連入NanoScope軟件的儀器集成實(shí)例。右：在C++中進(jìn)行NanoScript編程

ScanAsyst® 圖像優(yōu)化軟件，讓所有使用者能夠獲得專家級(jí)結(jié)果。

NanoScope®世界上被認(rèn)可的，被引用多的原子力顯微鏡。

布魯克DimensionIcon原子力顯微鏡技術(shù)細(xì)節(jié)：

Dimension^® Icon™優(yōu)秀的圖像分辨率，與Bruker*的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測(cè)量速度與質(zhì)量。Dimension^®系列大樣品臺(tái)原子力顯微鏡始終處于行業(yè)地位，的Dimension^® Icon™是針尖掃描技術(shù)的又一次革新，配置溫度補(bǔ)償位置傳感器，實(shí)現(xiàn)了Z軸亞埃級(jí)和XY軸埃級(jí)的低噪音水平，將其應(yīng)用在90微米掃描范圍的大樣品臺(tái)體系上，效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺(tái)AFM的開(kāi)環(huán)噪音水平。全新設(shè)計(jì)的XYZ閉環(huán)掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時(shí)，也不會(huì)損壞圖像質(zhì)量，實(shí)現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。

體驗(yàn)

• *的傳感器設(shè)計(jì)，在閉環(huán)條件下，也能實(shí)現(xiàn)大樣品臺(tái)、針尖掃描的AFM具有與開(kāi)環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有*的掃描分辨率
• 極大地降低噪聲水平，在輕敲模式下低于30pm，接觸模式下可獲得原子級(jí)圖像
• 熱漂移速率低于200pm/分鐘，獲得真正的樣品圖像

高效率

• XYZ閉環(huán)掃描器的*設(shè)計(jì)，使儀器在較高掃描速度工作時(shí)，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率
• 將十年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)融入到參數(shù)預(yù)設(shè)置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認(rèn)的實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｊ健?/span>
• 高分辨率相機(jī)和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測(cè)量位置

全功能

• 針尖和樣品之間開(kāi)放式的空間設(shè)計(jì)，不僅可以進(jìn)行各種標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)，也可以自行設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案，滿足不同研究工作的需求
• 硬件和軟件技術(shù)的不斷創(chuàng)新，新開(kāi)發(fā)的HarmoniX 模式，可以測(cè)量納米尺度上材料性質(zhì)
• 用戶實(shí)用程序腳本提供半自動(dòng)測(cè)量方案和數(shù)據(jù)分析